使用 Agilent 7850 ICP-MS 避免 ICP-MS 分析中常见的时间陷阱。这一智能方法可减少时间浪费，让忙碌的工作人员可以专注于更有价值的工作。7850 ICP-MS 是一款能够处理固体含量高达 25% 的样品的 ICP 质谱仪，可减少费时的稀释步骤。这款仪器具有氦模式碰撞池和半质量校正功能，可避免多原子和双电荷离子干扰，使方法开发更简单，并解决了导致费时的样品重新测量的常见问题。

特性

• 标准操作规程以及用于法规和常规分析的全面开发的方法，可为您节省数周的方法开发和文档编制时间。

• 超高基质进样系统 (UHMI) 可在不稀释的情况下直接分析总溶解态固体含量高达 25% 的样品，从而减少样品前处理时间。

• 氦气碰撞池和半质量校正可消除棘手的多原子和双电荷离子干扰，避免降低数据质量，同时可减少高成本的样品重新测量需求。

• 可靠的硬件使您无需基质匹配的校准标样即可测定高基质样品。

• IntelliQuant 可提供每个样品的完整元素谱，帮助您轻松识别异常样品基质。

• 异常值条件格式 (OCF) 可突出显示超出范围或不满足测试要求的结果，从而减少工作繁忙或经验不足的 ICP-MS 操作人员审查数据的时间。

• 早期维护反馈 (EMF) 功能采用传感器和计数器确定系统何时需要维护。交通信号灯式颜色预警确保您不会错过任何维护任务，但也不会过于频繁地进行维护。

• ICP Go 是一款用于移动设备的基于浏览器的可选用户界面，能够简化常规样品批次的设置和控制，非常适合来回奔走的 ICP-MS 操作人员。

• 针对特定方法的分析仪套装包含 ICP-MS 硬件、软件、消耗品、专业服务和文档，确保您能在数周内开始运行样品，无需耗费数月时间进行法规方法开发、优化、验证和文档编制。

工作原理

如何获得高基质样品的准确结果

高基质样品会引起信号漂移并抑制等离子体，导致结果不准确，需要重复分析。7850 的超高基质进样系统使用氩气流稀释样品。无需耗时且容易出错的手动稀释即可对基质中 TDS 高达 25% 的样品进行分析。

同时，7850 的氦气碰撞池和半质量校正可自动消除多原子和双电荷离子干扰。这些功能不仅能简化方法开发，还能避免导致测量失败的常见问题。